產(chǎn)品中心/ PRODUCTS CENTER
IM7587 阻抗分析儀
IM7587 阻抗分析儀
可信賴的機(jī)型3GHz
● 測(cè)試電壓測(cè)量頻率：1MHz~3GHz
● 測(cè)量時(shí)間：Z快0.5ms（模擬測(cè)量時(shí)間）
● 測(cè)量值偏差：0.07%（測(cè)量頻率1GHz時(shí)的代表值）
●
● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小，測(cè)試頭尺寸僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查（DCR測(cè)量、Hi-Z篩選、波形判定）
● 分析模式下可以邊掃描測(cè)量頻率、測(cè)量信號(hào)電平邊進(jìn)行測(cè)量
- 01
更新日期
2023-11-12
- 02
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家
- 03
瀏覽量
762
3504-60 C測(cè)試儀
3504-60 C測(cè)試儀封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類(lèi)等
● 高速測(cè)量2ms
● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷
● 對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試
● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試
● 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率
- 01
更新日期
2023-11-12
- 02
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家
- 03
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-
3504-50 C測(cè)試儀
3504-50 C測(cè)試儀封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類(lèi)等
● 高速測(cè)量2ms
● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷
● 對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試
● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試
● 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率
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更新日期
2023-11-12
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3504-40 C測(cè)試儀
3504-40 C測(cè)試儀
封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類(lèi)等
● 高速測(cè)量2ms
● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測(cè)量值，進(jìn)行被測(cè)物合格與否的判斷
● 對(duì)應(yīng)測(cè)試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測(cè)物體的測(cè)試
● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測(cè)試
● 查出全機(jī)測(cè)量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率
- 01
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3506-10 LCR測(cè)試儀
3506-10 LCR測(cè)試儀 對(duì)應(yīng)1MHz測(cè)試, 低容量,高精度,高速測(cè)試
● 模擬測(cè)量時(shí)間0.6ms（1MHz）的高速測(cè)量
● 提高了抗干擾性，在產(chǎn)線的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度
● 1kHz、1MHz測(cè)量下，低電容的貼片時(shí)可穩(wěn)定測(cè)量
● 根據(jù)BIN的測(cè)定區(qū)分容量
- 01
更新日期
2023-11-12
- 02
廠商性質(zhì)
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- 03
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3511-50 LCR測(cè)試儀
3511-50 LCR測(cè)試儀精巧，非常專業(yè)，5ms快速測(cè)量LCR
● 高速測(cè)量：5ms（1kHz）或13ms（120Hz）
● 高精度： ± 0.08%
● 內(nèi)置比較器
- 01
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2023-11-12
- 02
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